김박사넷

권동일 교수

서울대학교 재료공학부

http://nmmrl.snu.ac.kr/

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한줄평

서울대학교 재학생/졸업생의 평가

평가인원이 일정인원 이상 모이면 공개됩니다.

연구실 분위기 강의 전달력 논문 지도력 실질 인건비 인품

* 표시 항목은 평가가 부족하여 그래프에 나타나지 않음.

연구실 장점에 대한 한줄평

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  • .

  • F

  • 공과사를구분하지못하는듯.학생들이 비서인거같아서 불쌍함.

  • 그 연구실 학생들을 보면 눈물이 나옴

  • 본인회사일을 학생들에게 부담시킴

  • 축구 잘하면 추천

  • 연을 끊고싶은 사람에게 이 연구실을 추천해주면 됩니다. 교수님의 인품만큼은 Z가 있다면 Z를 주고싶음

  • 솔직히 5개중 두개 이상은 F다. 알바들이 평가했나? 솔직히 말하자...

  • 실험에 소용되는 비용 지원 및 인프라 장비구축이 훌륭함 인적 물적 네트워크가 광범위하게 활용 가능

  • 금속계열 연구실 중 괜찮은 편. 졸업한 선배들도 잘 나감. 연구는 거의 졸업한 선배들의 도움을 받아야한다는 점이 아쉬움. 연구실 화목함.

  • 괜찮습니다!

  • 무난한 연구실입니다. 석사하기에는 아주 적합한 연구실입니다.

SCIE 논문정보

2015년 이후 기준

동일계열 연구실과 비교 (재료/신소재공학)

SCIE논문 수

상위35%

TOP

100%

SCIE논문의 피인용 횟수

상위32%

TOP

100%

평균 Impact Factor

상위14%

TOP

100%

도움말

동일계열 연구실을 비교하는 이유는 연구 분야마다 논문의 수와 피인용 횟수가 상이하기 때문입니다. 상대적으로 논문이 잘 나오는 분야가 있는 반면, 졸업 때까지 한 편의 논문을 쓰기도 힘든 분야도 있습니다.

따라서 단순히 논문 수나 피인용 횟수만 비교하는 것보다 동일계열 연구실과의 상대적인 실적을 비교하는 것이 해당 연구실의 실적을 파악하는 데 좀 더 용이할 것입니다.

* 피인용 횟수는 bing.com기준으로 산정하였습니다.
SCIE 논문이란 Science Citation Index Extended의 약자로, Clarivate 회사가 선정하는 논문 데이터베이스를 뜻합니다. (2020년부터 SCI, SCIE의 구분이 사라지고 'SCIE'로 통합되었습니다.) 논문에도 급이 있다고 가정한다면, 위와 같은 공신력 있는 기관에서 인정한 학술지에 게재된 논문들이 SCIE 논문입니다. (이 기준에 대한 논란도 있어 SCIE '급' 이라는 이름으로 SCIE, SSCI, A&HCL, SCOPUS 등의 분류체계도 있는데, 대동소이합니다. 어떤 학술지가 SCIE인지 확인하기 위해, http://mjl.clarivate.com/ 에서 검색해 볼 수 있습니다.)

피인용 횟수는 해당 논문을 다른 논문에서 얼마나 인용하였는 지를 나타냅니다. 인용이 많이 되었다는 것은 그만큼 다른 연구자들도 관심을 많이 가지는 연구분야의 논문이라는 뜻으로, 피인용 횟수가 높을수록 좋은 논문이라고 여겨집니다. (피인용 횟수는 분야별로 차이가 크기 때문에 동일분야 논문끼리 비교해야 합니다.)
좋은 논문을 판별하는 기준 중 하나로 쓰이는 방법은, 어떤 학술지에 게재되었는 지를 살펴보는 것입니다. 학술지의 게재논문이 한 해 동안 평균적으로 얼마나 인용되고 있는 지를 알려주는 지표가 impact factor이며, 보통 이 수치가 높을수록 좋은 학술지로 평가 받습니다.

논문기반 연구실 키워드

    #Materials science
    #Composite material
    #Optics
    #Optoelectronics
    #Chemical engineering
    #Metallurgy
    #Polymer chemistry
    #Geometry
    #Forensic engineering
    #Polymer

권동일 교수가 저자인 논문목록

  • Bivariate Lifetime Model for Organic Light-Emitting Diodes

    2017/03 IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS

    7.0 Impact Factor

    8 citations

    Dae Whan Kim, Hyunseok Oh, Byeng D. Youn, Dongil Kwon

    DOI : 10.1109/TIE.2016.2623584

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