김박사넷

이정수 부교수

POSTECH 전자전기공학과

http://ndp.postech.ac.kr

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연구실 분위기 강의 전달력 논문 지도력 실질 인건비 인품

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연구실 장점에 대한 한줄평

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  • 밑에 댓글에 공감을 못하겠네요....우선 연구실 분위기가 너무 좋아서 연구하기에 적합합니다. 교수님의 인품도 정말 좋으십니다. 또한, 자대생 비율도 절반인 만큼 자대생에게도 인기가 좋은 랩실입니다.

  • .

  • "교수님 좋으십니다!" 어느 부분이 좋다는 걸까. 굉장히 모호한 표현이다. 연구실 실적 보면 답 나온다. 나 같으면 여기 안 간다. 자대생도 안 가려고 하는 랩.

  • 연구실 분위기와 교수님의 인품만큼은 전자과 최고입니다.

  • 교수님 좋으세요!!

  • ...

  • ..

  • 교수님 좋으십니다!

  • ...

  • ...

  • ..

SCIE 논문정보

2015년 이후 기준

동일계열 연구실과 비교 (전기/전자공학)

SCIE논문 수

상위4%

TOP

100%

SCIE논문의 피인용 횟수

상위3%

TOP

100%

평균 Impact Factor

상위11%

TOP

100%

도움말

동일계열 연구실을 비교하는 이유는 연구 분야마다 논문의 수와 피인용 횟수가 상이하기 때문입니다. 상대적으로 논문이 잘 나오는 분야가 있는 반면, 졸업 때까지 한 편의 논문을 쓰기도 힘든 분야도 있습니다.

따라서 단순히 논문 수나 피인용 횟수만 비교하는 것보다 동일계열 연구실과의 상대적인 실적을 비교하는 것이 해당 연구실의 실적을 파악하는 데 좀 더 용이할 것입니다.

* 피인용 횟수는 bing.com기준으로 산정하였습니다.
SCIE 논문이란 Science Citation Index Extended의 약자로, Clarivate 회사가 선정하는 논문 데이터베이스를 뜻합니다. (2020년부터 SCI, SCIE의 구분이 사라지고 'SCIE'로 통합되었습니다.) 논문에도 급이 있다고 가정한다면, 위와 같은 공신력 있는 기관에서 인정한 학술지에 게재된 논문들이 SCIE 논문입니다. (이 기준에 대한 논란도 있어 SCIE '급' 이라는 이름으로 SCIE, SSCI, A&HCL, SCOPUS 등의 분류체계도 있는데, 대동소이합니다. 어떤 학술지가 SCIE인지 확인하기 위해, http://mjl.clarivate.com/ 에서 검색해 볼 수 있습니다.)

피인용 횟수는 해당 논문을 다른 논문에서 얼마나 인용하였는 지를 나타냅니다. 인용이 많이 되었다는 것은 그만큼 다른 연구자들도 관심을 많이 가지는 연구분야의 논문이라는 뜻으로, 피인용 횟수가 높을수록 좋은 논문이라고 여겨집니다. (피인용 횟수는 분야별로 차이가 크기 때문에 동일분야 논문끼리 비교해야 합니다.)
좋은 논문을 판별하는 기준 중 하나로 쓰이는 방법은, 어떤 학술지에 게재되었는 지를 살펴보는 것입니다. 학술지의 게재논문이 한 해 동안 평균적으로 얼마나 인용되고 있는 지를 알려주는 지표가 impact factor이며, 보통 이 수치가 높을수록 좋은 학술지로 평가 받습니다.

논문기반 연구실 키워드

    #Materials science
    #Chemistry
    #Physics
    #Geology
    #Composite material
    #Optics
    #Optoelectronics
    #Electrical engineering
    #Electronic engineering
    #Analytical chemistry

이정수 교수가 저자인 논문목록

  • Silicon nanowire biosensors for detection of cardiac troponin I (cTnI) with high sensitivity

    2016/03 BIOSENSORS & BIOELECTRONICS

    7.8 Impact Factor

    87 citations

    Kihyun Kim, Chanoh Park, Donghoon Kwon, Donghoon Kim, M. Meyyappan, Sangmin Jeon, Jeong Soo Lee

    DOI : 10.1016/j.bios.2015.10.008

  • Effects of single grain boundary and random interface traps on electrical variations of sub-30 nm polysilicon nanowire structures

    2016/01 MICROELECTRONIC ENGINEERING

    1.8 Impact Factor

    4 citations

    Hyeongwan Oh, Jungsik Kim, Junyoung Lee, Taiuk Rim, Chang-Ki Baek, Jeong Soo Lee

    DOI : 10.1016/j.mee.2015.09.018

  • Design guidelines for nanoscale vacuum field emission transistors

    2016/07 JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B

    1.6 Impact Factor

    11 citations

    Jungsik Kim, Jiwon Kim, Hyeongwan Oh, M. Meyyappan, Jin-Woo Han, Jeong Soo Lee

    DOI : 10.1116/1.4944687

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