김박사넷

민병욱 부교수

연세대학교 전기전자공학부

http://web.yonsei.ac.kr/mics/

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  • 연구 및 논문 지도력이 상당하시고 정말 부지런하심, 인품도 항상 편하게 대하셔서 카톡으로 다이렉트로 교수님한테 궁금한 거나 문의사항을 주고받음. 강의도 좋으셔서 자대생들이 정말 많이 들어옴.

  • 연세대학교 전기전자공학과 교수님들 중 인성과 실력모두 탑임. 학생들에게 자유를 많이주셔서 열심히하는 사람은 열심히하고 안하는사람은 안하지만, 열심히하려하면 배울것도 정말 많음. 교수님이 직접해야할일은 학생들에게 안시키고 직접 다하심.

SCIE 논문정보

2015년 이후 기준

동일계열 연구실과 비교 (전기/전자공학)

SCIE논문 수

상위9%

TOP

100%

SCIE논문의 피인용 횟수

상위11%

TOP

100%

평균 Impact Factor

상위25%

TOP

100%

도움말

동일계열 연구실을 비교하는 이유는 연구 분야마다 논문의 수와 피인용 횟수가 상이하기 때문입니다. 상대적으로 논문이 잘 나오는 분야가 있는 반면, 졸업 때까지 한 편의 논문을 쓰기도 힘든 분야도 있습니다.

따라서 단순히 논문 수나 피인용 횟수만 비교하는 것보다 동일계열 연구실과의 상대적인 실적을 비교하는 것이 해당 연구실의 실적을 파악하는 데 좀 더 용이할 것입니다.

* 피인용 횟수는 bing.com기준으로 산정하였습니다.
SCIE 논문이란 Science Citation Index Extended의 약자로, Clarivate 회사가 선정하는 논문 데이터베이스를 뜻합니다. (2020년부터 SCI, SCIE의 구분이 사라지고 'SCIE'로 통합되었습니다.) 논문에도 급이 있다고 가정한다면, 위와 같은 공신력 있는 기관에서 인정한 학술지에 게재된 논문들이 SCIE 논문입니다. (이 기준에 대한 논란도 있어 SCIE '급' 이라는 이름으로 SCIE, SSCI, A&HCL, SCOPUS 등의 분류체계도 있는데, 대동소이합니다. 어떤 학술지가 SCIE인지 확인하기 위해, http://mjl.clarivate.com/ 에서 검색해 볼 수 있습니다.)

피인용 횟수는 해당 논문을 다른 논문에서 얼마나 인용하였는 지를 나타냅니다. 인용이 많이 되었다는 것은 그만큼 다른 연구자들도 관심을 많이 가지는 연구분야의 논문이라는 뜻으로, 피인용 횟수가 높을수록 좋은 논문이라고 여겨집니다. (피인용 횟수는 분야별로 차이가 크기 때문에 동일분야 논문끼리 비교해야 합니다.)
좋은 논문을 판별하는 기준 중 하나로 쓰이는 방법은, 어떤 학술지에 게재되었는 지를 살펴보는 것입니다. 학술지의 게재논문이 한 해 동안 평균적으로 얼마나 인용되고 있는 지를 알려주는 지표가 impact factor이며, 보통 이 수치가 높을수록 좋은 학술지로 평가 받습니다.

논문기반 연구실 키워드

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민병욱 교수가 저자인 논문목록

  • High Power Ku-Band T/R and SP4T Switches in SOI CMOS

    2016/01 JOURNAL OF ELECTROMAGNETIC WAVES AND APPLICATIONS

    0.8 Impact Factor

    0 citations

    Doojung Kim, Byung-Wook Min

    DOI : 10.1080/09205071.2016.1145077

  • Two Section Wideband 90 degrees Hybrid Coupler Using Parallel-Coupled Three-Line

    2017/06 IEEE MICROWAVE AND WIRELESS COMPONENTS LETTERS

    2.2 Impact Factor

    11 citations

    Hong-Jib Yoon, Byung-Wook Min

    DOI : 10.1109/LMWC.2017.2701304

  • DC-X-band high-power SOI CMOS T/R switch

    2016/05 ELECTRONICS LETTERS

    1.2 Impact Factor

    5 citations

    Bosung Suh, Byung-Wook Min

    DOI : 10.1049/el.2016.0179

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